Types de Caractérisations

SIMS Spectromètre de Masse des Ions Secondaires

  • Profile de concentration
  • Spectre de masse

 

 

XPS Escalab Xi+ Spectroscopie de Photoémission des rayons X (XPS)

  • Composition Chimique

MEB JSM-7610FPlus Microscope Electronique à Balayage de haute résolution - EDS

  • Imagerie – morphologie
  • Analyse Elémentaire Chimique

EPMA Jeol JXA 8230 Electron Probe Micro Analysis

  • Éléments chimique

FL3-DFX-iHR320 Banc de Photoluminescence

  • Phosphorescence
  • Fluorescence
  • Durée de vie.
  • Mesures à Basse Température

Spectromètre Cary 500 UV – Visible– Proche Infra- rouge

  • Transmission
  • Réflexion
  • Absorption

Thermo Nicolet NEXUS 670 Spectroscopie infrarouge à transformée de Fourier

  • FTIR
  • ATR

Effet hall HL5900PC Profileur à effet Hall

  • Profils de la Concentration
  • Mobilité

Angle de contacte

  • mesure hydrophile /hydrophobe de composante de la surface

Tencor 500 Profilomètre

Tencor 500 Profilomètre

  • mesure d’épaisseur

ECV PN4300 PC Electrochemical C-V Profiler

  • Profils de la Concentration (n, p)
  • Profondeur de la Jonction

Simulateur solaire Oriel instrument

  • Caractérisation IV sous éclairement et sous obscurité des cellules solaires.

Réponse Spectrale

  • Rendement quantique externe (EQ)
  • Rendement quantique interne (IQ)

Résistivimètre CMT Séries SR 2000 N

  • Mesure de la résistivité surfacique

Potentiostat-Galvanostat VMP3/AUTOLAB

  • I(V), C(V),
  • Ampèremètre
  • Spectroscopie d’impédance

TENSIOMETRE INTERFACIALE DIGITAL

  • Mesure de la tension de surface
  • Mesure de l’angle de contact.
  • Tension interfaciale.
  • Analyse de l’absorption
  • Visualisation du temps nécessaire