Types de Caractérisations
XPS Escalab Xi+ Spectroscopie de Photoémission des rayons X (XPS)
- Composition Chimique
MEB JSM-7610FPlus Microscope Electronique à Balayage de haute résolution - EDS
- Imagerie – morphologie
- Analyse Elémentaire Chimique
EPMA Jeol JXA 8230 Electron Probe Micro Analysis
- Éléments chimique
FL3-DFX-iHR320 Banc de Photoluminescence
- Phosphorescence
- Fluorescence
- Durée de vie.
- Mesures à Basse Température
Spectromètre Cary 500 UV – Visible– Proche Infra- rouge
- Transmission
- Réflexion
- Absorption
Effet hall HL5900PC Profileur à effet Hall
- Profils de la Concentration
- Mobilité
Angle de contacte
- mesure hydrophile /hydrophobe de composante de la surface
Tencor 500 Profilomètre
Tencor 500 Profilomètre
- mesure d’épaisseur
ECV PN4300 PC Electrochemical C-V Profiler
- Profils de la Concentration (n, p)
- Profondeur de la Jonction
Simulateur solaire Oriel instrument
- Caractérisation IV sous éclairement et sous obscurité des cellules solaires.
Réponse Spectrale
- Rendement quantique externe (EQ)
- Rendement quantique interne (IQ)
Résistivimètre CMT Séries SR 2000 N
- Mesure de la résistivité surfacique
Potentiostat-Galvanostat VMP3/AUTOLAB
- I(V), C(V),
- Ampèremètre
- Spectroscopie d’impédance
TENSIOMETRE INTERFACIALE DIGITAL
- Mesure de la tension de surface
- Mesure de l’angle de contact.
- Tension interfaciale.
- Analyse de l’absorption
- Visualisation du temps nécessaire