Electron Probe Micro Analysis (EPMA) Jeol JXA 8230

Electron Probe Micro Analysis

(EPMA) Jeol JXA 8230

Une technique d’analyse in situ non destructive permettant de détecter tous les éléments à partir du Béryllium dans un volume de l’ordre du micromètre cube avec une sensibilité d’environ 100 ppm.

La microsonde électronique analyse l’émission X produite par l’interaction entre des électrons incidents et les éléments constituant le matériau à analyser.

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