Microscope Electronique à Balayage de haute résolution (MEB) JSM-7610FPlus

Microscope Electronique à Balayage de haute résolution

(MEB) JSM-7610FPlus

MEB haut de gamme pour les nanotechnologies, les sciences des matériaux, la biologie, la Cryo-microscopie, la lithographie, et les analyses de composition. La grande chambre objet accepte des échantillons jusqu’à 200 mm de diamètre.

Ainsi, il peut atteindre l’ultra haute résolution avec une large gamme de courant de faisceau (1pA à plus de 400 nA), couvrant tous types d’applications. Le JSM-7610Fplus a un grandissement réel de x 1.000.000 avec une résolution de 0,8 nm et une stabilité incomparable, permettant l’observation de morphologies d’extrême surface.

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