Spectrométrie de Photoémission des Rayon X (XPS) Escalab Xi+

Spectrométrie de Photoémission des Rayon X (XPS)

Escalab Xi+

Méthode de spectrométrie photo électronique qui implique la mesure des spectres de photoélectrons induits par des photons de rayon X.  Dans l’XPS, l’échantillon est bombardé par des rayons X d’une certaine longueur d’onde (issus de sources AlKa et ou Al/Mg), ce qui émet un photoélectron qui est par la suite détecté. Les photoélectrons ont des énergies propres à chaque élément, ce qui permet de déterminer la composition de l’échantillon. Pour une analyse qualitative, l’élément doit avoir une concentration plus élevée que 0,1%, tandis qu’une analyse quantitative peut être effectuée si 5% de l’élément est présent. La méthode était anciennement nommée ESCA (electron spectroscopy for chemical Analysis : Spectroscopie d’Electron pour l’Analyse Chimique)

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